
Neues aus der Materialographie:
Entdecken Sie die Möglichkeiten der FIB-SEM-Mikroskopie bei Quality Analysis
Profitieren Sie von der unschlagbaren Kombination eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops mit den Bearbeitungsfunktionen eines fokussierten Ionen-Strahls und eines Femtosekunden-Lasers. Die FIB-SEM-Technologie ermöglicht uns, Ihre Proben bis auf die Nanometerebene zu analysieren.
Im Folgenden sehen Sie einen kleinen Auszug der zahlreichen Untersuchungsmöglichkeiten mit FIB-SEM:
- Analyse von Schichtaufbauten und chemische Analyse der einzelnen Schichten
- Hochauflösende Querschnittsuntersuchungen im Nanometerbereich
- 3D-Tomografien von komplexen Strukturen durch Serienschnitte
- Untersuchung von Gefügestrukturen
- Aufklärung und Defektanalyse in elektronischen Baugruppen
- Untersuchung der Einzelkomponenten einer Brennstoffzelle oder einer Lithium-Ionen-Batteriezelle
Was können wir für Sie untersuchen? Gerne dürfen Sie sich bei uns melden.

