FIB-SEM-Mikroskopie bei Quality Analysis

Neues aus der Materialographie:

Entdecken Sie die Möglichkeiten der FIB-SEM-Mikroskopie bei Quality Analysis

Profitieren Sie von der unschlagbaren Kombination eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops mit den Bearbeitungsfunktionen eines fokussierten Ionen-Strahls und eines Femtosekunden-Lasers. Die FIB-SEM-Technologie ermöglicht uns, Ihre Proben bis auf die Nanometerebene zu analysieren.

Im Folgenden sehen Sie einen kleinen Auszug der zahlreichen Untersuchungsmöglichkeiten mit FIB-SEM:

  • Analyse von Schichtaufbauten und chemische Analyse der einzelnen Schichten
  • Hochauflösende Querschnittsuntersuchungen im Nanometerbereich
  • 3D-Tomografien von komplexen Strukturen durch Serienschnitte
  • Untersuchung von Gefügestrukturen
  • Aufklärung und Defektanalyse in elektronischen Baugruppen
  • Untersuchung der Einzelkomponenten einer Brennstoffzelle oder einer Lithium-Ionen-Batteriezelle

Was können wir für Sie untersuchen? Gerne dürfen Sie sich bei uns melden.

>>> Mehr zur FIB-SEM-Mikroskopie

Mikroaufnahme einer Brennstoffzelle mittels FIB-SEM-Mikroskopie
Mikroaufnahme einer gasdurchlässigen Schicht aus einer Brennstoffzelle mittels FIB-SEM-Mikroskopie

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