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Rasterelektronen
mikroskopie

Rasterelektronenmikroskopie: Darstellung und Analyse von Oberflächenstrukturen

Rasterelektronenmikroskopie

Mit der Rasterelektronenmikroskopie stehen uns vielfältige Untersuchungsmethoden zur Verfügung. Damit gewinnen wir Oberflächeninformationen mit starker Vergrößerung und hoher Schärfentiefe. Diese Informationen dienen uns zur Untersuchung von der Materialbeschaffenheit, Analyse von Einschlüssen und Anhaftungen, fraktografische Auswertung von Bruchflächen sowie für die Partikelanalyse gemäß VDA 19/19.1.

EINSTIEG IN DIE NANO-WELT

Das ZEISS Crossbeam 350 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM), das zusätzlich einen fokussierten Ionenstrahl (Ga-FIB) und einen integrierten Femtosekundenlaser der nächsten Generation enthält. So erhalten wir Einblicke in das Innere einer Probe und können gleichzeitig mit dem Ionenstrahl Material in kleinsten Mengen lokal abtragen und damit diese Querschnitte der Probe direkt für das REM freilegen. Auch hier können wir Proben in höchster Auflösung in 3D abbilden.

Anwendung und Analysemöglichkeiten

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Schadensanalyse: Bruchflächenanalyse

BILDDOKUMENTATION

Die hochauflösende Darstellung von Probenoberflächen oder Bruchstrukturen ist von essentieller Bedeutung in der Schadensanalyse. Die Klärung der Frage, ob ein Bauteil im Modus eines Gewaltbruches oder eines Schwingbruches versagt hat oder ob ein Korrosionsvorgang stattgefunden hat, wird mittels oberflächensensitiver und materialsensitiver Darstellung im REM geführt.

EDX-Analyse: Magnesium, Technische Sauberkeit Partikelanalyse
EDX-Analyse: Magnesium (Hauptkomponente)

BESTIMMUNG DER CHEMISCHEN ZUSAMMENSETZUNG (EDX-ANALYSE)

Diese Untersuchung ermöglicht die Charakterisierung der Elementzusammensetzung. Fremdeinschlüsse in Werkstoffen, Verunreinigungen auf Bauteiloberflächen, der Nachweis von korrosiven Substanzen auf Bauteilen lassen sich mittels der EDX-Analyse identifizieren. Die einzelnen Elemente können farblich dargestellt und deren Verteilung auf einer Oberfläche so veranschaulicht werden. Natürlich ist auch eine quantitative Analyse der einzelnen Elemente möglich.

REM: Hochauflösende Darstellung von Oberflächenstrukturen

MIKROSTRUKTURANALYSE

Die Untersuchung von Mikrostrukturen ist in der Materialforschung, in der Medizintechnik und in der Halbleitertechnik unverzichtbar. Ein Anwendungsbeispiel ist die Abbildung der Oberfläche von Zahnimplantaten und Gelenkprothesen. Bei hohen Vergrößerungen (>20 000x) wird die Oberflächenstruktur untersucht und nach anhaftenden Verunreinigungen gesucht.

Schadensanalyse: Untersuchung von Reibung, Verschleiß und Reibung

CHARAKTERISIERUNG VON VERSCHLEIßERSCHEINUNGEN

Die Ursache für Verschleißschäden ist vielfältig. Mangelnde Schmierung, zu hohe Flächenpressung oder abrasive Partikel zwischen den Gleitpartnern können für das Auftreten eines Verschleißschadens ursächlich sein. Das Schadensbild wird mit dem Rasterelektronenmikroskop untersucht und kann dann einem Verschleißmechanismus zugeordnet werden.

REM-Spektroskopie, Partikelanalyse und technische Sauberkeit
REM-Aufnahme

VOLLAUTOMATISCHE PARTIKELANALYSE MIT SMART PI

Vollautomatischer Filterscan mit der Smart PI Software. Von jedem einzelnen Partikel wird die Größe sowie die Elementzusammensetzung bestimmt.

Erfahren Sie mehr zur Partikelanalyse

TECHNISCHE AUSSTATTUNG

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Wir setzen folgende Geräte ein:

  • ZEISS EVO 15
  • ZEISS MA 25
  • ZEISS SUPRA VP40
  • ZIESS CROSSBEAM 350 L

QUALITY ANALYSIS
IHR RICHTIGER PARTNER FÜR DIE RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE

Sie benötigen eine detaillierte Schadensanalys? Dann sind Sie bei uns richtig. Wir beraten Sie gerne zu den zahlreichen Möglichkeiten und kombinierten Analysemethoden. Das Ziel: die beste, wirtschaftlichste und effizienteste Aufklärung Ihrer Schadensfalls.
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