Control 2017: Wir stellen aus

Vom 9. bis 12. Mai 2017 findet in Stuttgart die CONTROL 2017 statt. Quality Analysis präsentiert das ganze Spektrum der industriellen Qualitätssicherung auf Stand 3414 in Halle 3.

Der Besucher erhält einen Einblick in die ganze Breite der Analysemöglichkeiten und erfährt alles über den Nutzen und Mehrwert für seine Herstellungsprozesse. Durch die Interaktion der Fachbereiche bei Quality Analysis ergeben sich Synergiemöglichkeiten, zum Beispiel gestaltet sich die Messtechnik durch die Interaktion der Fachbereiche Taktile Messtechnik, Optische Messtechnik und Computertomographie besonders effizient.

Korrelative Workflows kommen gezielt in der Auswertung von optischen Messdaten und CT-Daten durch GOM Inspect zum Einsatz. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie sorgen für eine korrelative Partikelanalyse. Zudem werden die neuen Technologien Thema sein, wie zum Beispiel der neue optische Sensor ATOS Triple Scan von GOM, Analysemöglichkeiten mit dem 2D-Röntgenverfahren sowie anorganische und organische Materialanalyse mit RAMAN- und FT-IR-Spektroskopie.

Schon heute können Sie sich Ihr Messeticket bestellen – siehe Link am Ende des Artikels. Wenn Sie einen Termin mit unseren Experten vereinbaren, können wir uns gezielt Zeit für ein persönliches Gespräch mit Ihnen nehmen.


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