Neues Leistungsstarkes 2D-Röntgensystem mit brillanter Bildqualität

Mit GE phoenix microme|x haben wir unser Analysespektrum erneut erweitert. Das Röntgeninspektionssystem liefert brillante Bildqualität für schnelle und detaillierte 2D-Analysen.

Das hochauflösende Mikrofokus-Röntgeninspektionssystem erlaubt mit 180 kV/20 W eine Durchstrahlungsprüfung in Echtzeit. Dabei liefert es hochauflösende Röntgenbilder mit einer Detailerkennbarkeit von bis zu 0,5 µm sowie eine detailreiche Live-Inspektion. Das System kombiniert zwei- und dreidimensionale Röntgeninspektion. Mit dem GE Flash!Filter erhöht sich zusätzlich die Kontrast- und Bildschärfe für eine zielsichere Fehlererkennung.

 
Anwendung bei QA:

Das neue Röntgeninspektionssystem wird zur schnellen zerstörungsfreien Bauteiluntersuchung eingesetzt. Die neue Anlage fügt sich perfekt in die bestehende Geräteausstattung ein und fördert die Interaktion der Fachbereiche mit Synergieeffekte für eine zeit- und kostensparende Vorgehensweise:

  • Die 2D-Röntgenbilder liefern wertvolle Informationen in Form von hochauflösenden Röntgenaufnahmen als vorbereitendes Verfahren für Analysen mit 3D-Computertomographie oder mikroskopische Materialanalysen, zum Beispiel als Vorabinspektion von Bauteilen und für die Lokalisierung von schadhaften Bereichen, für Montagekontrollen und Fehlererkennung. Dadurch gestalten sich Analysen im Nachgang schneller, effizienter und kostengünstiger.
  • Es ergeben sich neue Analysemöglichkeiten: zerstörungsfreie Prüfung bzw. Inspektion hochwertiger Aufbau- und Verbindungstechnik in der Halbleiter- und SMT-Industrie, zum Beispiel für die Lötstelleninspektion oder Halbleiterinspektion.
  • Darüber hinaus wird das Verfahren bei der Produkt- und Stichprobenkontrolle oder bei Schadensfällen eingesetzt.

Industrielle Computertomographie – Technischen Ausstattung

Zurück zur Übersicht