Technische Sauberkeit
Reinraumlabor der Klasse 8
RAMAN- und FT-IR-Spektroskopie
Eingangs- und Ausgangskontrolle
Akkreditiertes Prüflabor
Partikelfallenanalyse

Technische Sauberkeit

Partikel und Restschmutz Extrahieren und Analysieren

Funktionsrelevante Teile von Bauteilen und Systemen liegen oft in Innenbereichen von Leitungen, Kanälen, Gehäusen, Tanks, Pumpen, Ventilen oder ähnlichen Komponenten. Werden hier Fluide eingesetzt, können Partikel an empfindliche Stellen transportiert werden und langfristig zur Funktionseinschränkung bis hin zur Systemschädigung führen. Vor allem in der Erstbemusterung, Evaluierung, Requalifizierung sowie als Eingangs- und Ausgangskontrolle und zur Überwachung der Herstellungsprozesse kann durch Analysen die technische Sauberkeit beurteilt werden.

Unser nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiertes Prüflabor, ein Reinraum der Klasse 8, führt alle gängigen Extraktionsverfahren sowohl bei Kleinstbauteilen als auch bei großen Baugruppen durch (siehe Technische Ausstattung). Die partikuläre Verschmutzung wird hochgenau durch Gravimetrie, Licht- und Raster-Elektronen-Mikroskopie sowie RAMAN- und FT-IR-Spektroskopie detektiert und bestimmt. Zudem analysieren wir Partikelfallen von Umgebungsmonitorings.

Basis für die Sauberkeitsprüfungen bilden die Regelwerke VDA Bd. 19/19.1 und ISO 16232. Alle Kunden- und Werksnormen werden auf Wunsch adaptiert.

Projektablauf

Schritt 1
Istaufnahme

Nach präziser Erfassung des Istzustands anhand von Zeichnungen und relevanten Normen legen wir im Dialog mit Ihnen die Prüfmethode und Qualifizierungsuntersuchung fest und erstellen die Prüfspezifikation.

Durch Mehrschichtbetrieb ist die effiziente und flexible Durchführung des gesamten Projektablaufs gesichert.

Unser Service: Auf Wunsch holen wir Ihre Bauteile ab und stellen wieder zu.


Schritt 2
Analyseleistungen

Extraktionsverfahren (Partikel­gewinnung auf Bauteil bzw. Umgebung) durch:

  • Spülen / Spritzen
  • Ultraschall
  • Öl- / Flüssigkeitsanalysen
  • Partikelfallen für Umgebungsmonitoring

 

Analyseverfahren (messtechnische Erfassung von Partikeln):

  • Filtration
  • Gravimetrie
  • Lichtmikroskopische Analyse
  • Chemische Elementenanalyse (EDX)
  • RAMAN-Spektroskopie
  • FT-IR-Spektroskopie

Schritt 3
Dokumentation

Perfekte Daten im Zusammenspiel mit exzellenter Analytik bilden die Grundlage unserer Dokumentationen.

Die Ergebnisse werden so dokumentiert, dass Sie die richtigen Schlüsse für Ihre Qualitätssicherung ziehen können. Bei Bedarf beraten und begleiten wir: am Telefon, per Webmeeting, Fernsupport oder im persönlichen Gespräch.

Die Analysenberichte können direkt in die eigene Prozessdokumentation übernommen werden.


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Technische Ausstattung

Es können sowohl Kleinteile als auch Bauteile bis zu einem Gewicht von 100 kg und einer Größe von L = 1700, B = 745, H = 905 untersucht werden. Dazu stehen eine große Anzahl verschiedenster Extraktionssysteme zur Verfügung. Somit können wir Ihnen alle gängigen Methoden zur Partikelextraktion wie Spritzen, Spülen und Ultraschall anbieten.

Filtration, Gravimetrie sowie umfassende Partikelanalyse über Licht- und Raster-Elektronen-Mikroskopie sowie RAMAN- und FT-IR-Spektroskopie dienen der hochgenauen Bestimmung und Detektion der partikularen Verschmutzung.

Durch die verschiedenen Analysesysteme können sowohl anorganische als auch organische Partikel analysiert werden.

Bauteilgröße

Max. Messbereich (mm)
Länge = 1700
Breite = 745
Höhe = 905

Bauteilgewicht

Max. 100 kg

Bauteile

Einzelkomponenten und Baugruppen

Flüssigkeiten

Lösemittel und wässrige Basis sowie VE-Wasser

Normen
  • Labor akkreditiert nach VDA 19/19.1 sowie nach ISO 16232
  • Anwendung Normenwerke ISO 4405, 4406 und 4407 sowie VDA 19.2
  • Zulassung OEM´s und Anwendung nahezu aller spezifischen Kunden- und Werksnormen unterschiedlicher Branchen

Extraktionssysteme

ACM 17

ACM 17

Anzahl
3
Beckenmaße max. Ø (mm)
500
Bauteilgewicht max. (kg)
5
Volumenstrom (ml/min)
50 - 1500
Düsensystem
Variable Düsen adaptierbar
Ultraschallleistung (Watt/l), Frequenz 40 kHz
100 - 200
Systemfilter absolut (µm)
0,2
Rücklauffilter absolut (µm)
0,5
Filterkaskade
3
Rius Single

Rius Single

Anzahl
1
Beckenmaße max. (mm)
L = 1100, B = 800, H = 650
Bauteilgewicht max. (kg)
15
Volumenstrom (ml/min)
50 - 3000
Düsensystem
Variable Düsen adaptierbar
Ultraschallleistung (Watt/l), Frequenz 40 kHz
ohne
Systemfilter absolut (µm)
0,2
Rücklauffilter absolut (µm)
5
Filterkaskade
3
Rius QA-Sonderanfertigung

Rius QA-Sonderanfertigung

Anzahl
1
Beckenmaße max. (mm)
L = 1700, B = 745, H = 905
Bauteilgewicht max. (kg)
30
Volumenstrom (ml/min)
50 - 3000
Düsensystem
Variable Düsen adaptierbar
Ultraschallleistung (Watt/l), Frequenz 40 kHz
ohne
Systemfilter absolut (µm)
0,65
Rücklauffilter absolut (µm)
0,65
Filterkaskade
3
Besonderes Ausstattungsmerkmal
Handlingsystem
WALTER Ultraschall QA-Sonderanfertigung

WALTER Ultraschall QA-Sonderanfertigung

Beckenmaße max. (mm)
L = 1100, B = 580, H = 400
Bauteilgewicht max. (kg)
100
Fassungsvermögen (l)
360
Ultraschallleistung (Watt/l), Frequenz 40 kHz
8000/4000 eff.
Regelung Ultraschallleistung
9-stufig, digital
Volumenstrom (ml/min)
50 - 3000
Düsensystem
Variable Düsen adaptierbar
Systemfilter absolut (µm)
1
Rücklauffilter absolut (µm)
1
Filterkaskade
3
Besonderes Ausstattungsmerkmal
US und Spritzreinigung

Analysesysteme

Sartorius Waage CPA225D-VF3837

Sartorius Waage CPA225D-VF3837

Wägebereich (g)
10
Genauigkeit (mg)
0,01
Auflösung (mg)
0,01
Reproduzierbarkeit (mg)
± 0,02
Linearität (mg)
± 0,03
Besondere Ausstattungsmerkmale
  • Schwingungsisolierender Tisch mit Niveauregelung
  • Interne Justierautomatik bei Temperaturänderung >2°K
  • Faradayscher Käfig im Wägebereich
Jomesa

Jomesa

Anzahl
5
Objektiv
Diverse Vergrößerungen
Auflösung (µm)
X = 6,2 / Y = 6,2
Beleuchtung
Ringlicht
Beleuchtungsverfahren
Linear polarisiertes Auflicht-Mikroskopiesystem
Auswertedurchmesser (mm)
44
Auswerteverfahren
Vollautomatischer Modus
Nachbewertung
Manuell
Besondere Ausstattungsmerkmale
  • Polarisator Erkennung: metallisch - nicht-metallisch
  • Partikeldetektion ab 25 µm
ZEISS AxioZoom V16

ZEISS AxioZoom V16

Objektiv
Z = 0,5x/0,125; Z = 1,5x/0,37
Objektivsteuerung
Objektiv-Revolver
Beleuchtung
Ringlicht
Beleuchtungsverfahren
Polarisiertes Auflicht-Mikroskopiesystem
Besondere Ausstattungsmerkmale
  • Polarisator Erkennung: metallisch - nicht-metallisch
  • Partikeldetektion ab 10 µm
ZEISS Evo MA 25

ZEISS Evo MA 25

Vergrößerung
40 - 75000
Spezifizierte Ortsauflösung
  • 3,0 nm bei 30kV Hochvakuum
  • 10,0 nm bei 3 kV im Hochvakuum
Vakuum-Verfahren
  • Hochvakuum
  • Variables Niederdruckvakuum bis 400 Pa
Erzeugung Elektronenstrahl
Wolfram Kathode
Probengröße (mm)
L = 100; B = 100; H = 35
Probentisch
  • Vollautomatische Stage mit 5-Achsen
  • Euzentrische Kippung
  • Verfahrweg: x = ± 65 mm; y = ± 65 mm; z = 50 mm
Probenkammer (mm)
Innendurchmesser = 420
Kammerhöhe = 330
Probengewicht [kg]
1
Detektoren
  • SE-Detektor [Sekundär-Elektronen im HV)
  • VPSE-Detektor (Sekundär-Elektronen im VV)
  • BSD-Detektor 5-Quadranten (Rückstreu-Elektronen bis 1 Kea)
  • EDX-Detektor [129eV] (Röntgen-Quanten) Bruker Quantax 200
Software
ZEISS SEM und Smart PI
Beschleunigungsspannung
bis 30 kV
Besondere Ausstattungsmerkmale
  • Vollautomatische Partikel-Analyse mit Smart PI [5-fach Probenträger]
  • Universeller Einsatz mit Smart SEM
Renishaw RAMAN inVia REFLEX

Renishaw RAMAN inVia REFLEX

Spektrale Auflösung (cm-1)
< 1 - 2
Spektrale Stabilität (cm-1)
< ± 0,05 über 7,5 Stunden
Sensivität
< 100 sec. --> S/N > 3
Laserpunkt Durchmesser (µm)
1 - 300
Laserintensität (%)
0,00005 - 100
Objektive
N PLAN x5; NA 0,12; WD 14
N PLAN x20; NA 0,40; WD 1,15
N PLAN x50; NA 0,7; WD 0,37
Laserklasse
1
Probentisch (mm)
112 x 76 Verfahrweg
Probenhöhe (mm)
34
Probengewicht (KG)
2
Detektoren
CCD Array Detector 1024x256 Pixel, gekühlt
Software
WIRE 4.2 und Sondermodule
Spektren
S.T. Japan Complete Collection +
inkl. Mineralien, anorganische Materialien, Edelsteine
QA-spezifische Spektren
Laser
532 nm Nd:YAG-Laser, 50 mW - Gitter mit 1800 Linien/mm
785 nm Diodenlaser, 300 mW - Gitter mit 1200 Linien/mm
457 nm Solid State Laser, 25 mW - Gitter mit 2400 Linien/mm
Besondere Ausstattungsmerkmale
  • 3 Laserwellenlängen
  • Autofokus-Funktion
Bruker Lumos FT-IR-Mikroskop

Bruker Lumos FT-IR-Mikroskop

physikalische Basis
Transmission und Reflexion
Zusatz
ATR = abgeschwächte Totalreflexion
spektrale Auflösung (cm-1)
< 2
Spektralbereich (cm-1)
650 - 6000
spektrale Stabilität (cm-1)
< ± 0,05 über 7,5 Stunden
Sensivität
< 100 sec. --> S/N > 3
Laserpunkt Durchmesser (µm)
1 - 300
Laserintensität (%)
0,00005 - 100
Objektive
N PLAN x5; NA 0,12; WD 14
N PLAN x20; NA 0,40; WD 1,15
N PLAN x50; NA 0,7; WD 0,37
Beleuchtung
IR und VIS-Beleuchtung
Probentisch (mm)
75 x 50 Verfahrweg
Detektor
Mittelband-MCT-Detektor, flüssig gekühlt mit Stickstoff
Software
OPUS/IR+; OPUS/3D+; OPUS/Search, OPUS/Structure und weitere
Spektren
BRUKER Basis
S.T.Japan ATR-FTIR complete + QA-basierende spezifische Spektren
Besondere Ausstattungsmerkmale
  • IR und VIS-Mode sowie ATR-Mode